全自動(dòng)高精度共聚焦拉曼系統(tǒng) AutoRam C

     AutoRam C 系列支持多達(dá)三種可見(jiàn)激光（450、532、633 nm），是一款快速、準(zhǔn)確且易分析易使用的全自動(dòng)共焦拉曼系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用 SMART™ Mapping 技術(shù)，實(shí)現(xiàn)激光控制、光學(xué)濾光片切換、光柵調(diào)整和自動(dòng)對(duì)焦的全面自動(dòng)化，從而提升效率和重復(fù)性。該系統(tǒng)支持原位光電流測(cè)量和電池循環(huán)測(cè)試，并可與Nanophotocurrent和Nanospectrum軟件無(wú)縫集成，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)結(jié)構(gòu)和電學(xué)分析。AutoRAM-C系列適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體及能源研究領(lǐng)域，可在緊湊型智能平臺(tái)上提供高性能拉曼光譜分析。

為什么共聚焦低波數(shù)拉曼成像系統(tǒng)Auto Ram C 系列是您下一臺(tái)拉曼儀器的性價(jià)比.

以速度與精度革新拉曼掃描——- 振鏡技術(shù)

? 技術(shù)概述

   振鏡掃描技術(shù)采用響應(yīng)速度極快的電流計(jì)式反射鏡，實(shí)現(xiàn)激光束在樣本上的快速偏轉(zhuǎn)。與傳統(tǒng)的機(jī)械載物臺(tái)掃描（即移動(dòng)樣本本身）不同，該技術(shù)能在微秒級(jí)時(shí)間內(nèi)改變光束方向，從而實(shí)現(xiàn)無(wú)接觸、無(wú)振動(dòng)的掃描，且精度可達(dá)亞微米級(jí)別。

參數(shù)說(shuō)明

振鏡的關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)

振鏡掃描技術(shù)

Galvo 鏡像掃描是拉曼測(cè)繪的核心技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)超快速、精確和局部測(cè)量。在 Nanobase 智能™測(cè)繪平臺(tái)中，該技術(shù)與電動(dòng)載物臺(tái)移動(dòng)集成，形成一個(gè)混合系統(tǒng) —— 將 Galvo 掃描的高速敏捷性與載物臺(tái)測(cè)繪的廣域覆蓋相結(jié)合。結(jié)果是在一個(gè)平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)速度、靈活性和精度。

拉曼的逐層分析技術(shù)

技術(shù)概述

   在 Nanobase，我們憑借專有的 Slit-Binning（狹縫合并）技術(shù)，重新定義了拉曼信號(hào)的捕獲方式 —— 這是一項(xiàng)強(qiáng)大的信號(hào)處理增強(qiáng)技術(shù)，能在不損失分辨率的前提下，顯著提升靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。

   傳統(tǒng)的 ccd 合并方法往往會(huì)犧牲信號(hào)完整性或空間分辨率。而我們的 Slit-Binning 技術(shù)則通過(guò)智能整合探測(cè)器上僅有的有效狹縫區(qū)域，消除背景噪聲并優(yōu)化信噪比（SNR）。即便面對(duì)極弱的拉曼信號(hào)，該技術(shù)也能生成更清晰、更銳利的光譜。

Z 軸輪廓分析能力

   我們的 Slit-Binning 共聚焦設(shè)計(jì)不僅比傳統(tǒng)針孔共聚焦系統(tǒng)更易于維護(hù)，還能實(shí)現(xiàn)精確的 Z 軸輪廓分析，可進(jìn)行詳細(xì)的深度分析和逐層測(cè)量，且重復(fù)性高。光學(xué)、機(jī)械與設(shè)計(jì)方面的創(chuàng)新相結(jié)合，確保了穩(wěn)定可靠的拉曼性能。

應(yīng)用示例：多層薄膜分析（PET/PE/EVOH/PE）Z 步長(zhǎng)：0.3μm / 曝光時(shí)間：1 秒 / 深度范圍：0-60μm EVOH 的峰值約為 1061 cm-1，PET 的峰值約為 1617 cm-1。

拉曼 Mapping 實(shí)時(shí)自動(dòng)對(duì)焦功能

技術(shù)概述

  Live-Focus 是 Nanobase的實(shí)時(shí)激光自動(dòng)對(duì)焦功能，由其專屬的激光自動(dòng)對(duì)焦模塊提供技術(shù)支持。這一智能系統(tǒng)在掃描過(guò)程中會(huì)持續(xù)追蹤并自動(dòng)調(diào)整激光的焦點(diǎn)，即便面對(duì)傾斜、不平整或有結(jié)構(gòu)化的表面，也能確保始終處于對(duì)焦?fàn)顟B(tài)。

• 測(cè)量性能可能會(huì)受到所用激光功率的限制。

• 對(duì)于表面反射率低的樣品，或因表面粗糙而產(chǎn)生漫反射的樣品，其性能可能會(huì)受到限制。

實(shí)時(shí)對(duì)焦應(yīng)用實(shí)例

拉曼智能  Mapping

技術(shù)概述

   Nanobase 拉曼系統(tǒng)提供三種不同的掃描模式，每種模式都針對(duì)特定的分析需求和空間分辨率進(jìn)行了優(yōu)化。從快速表面檢測(cè)到高分辨率映射，這些模式使研究人員能夠在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下調(diào)整他們的測(cè)量策略。

• 我們系統(tǒng)的核心是一種混合掃描機(jī)制，它結(jié)合了用于快速光束轉(zhuǎn)向的 Galvo 和用于精確移動(dòng)的電動(dòng)載物臺(tái)。

• Galvo 鏡面可實(shí)現(xiàn)快速光斑切換和高速掃描，而電動(dòng)載物臺(tái)可提供精確定位和大面積測(cè)繪。

• 這種雙重方法與內(nèi)置自動(dòng)對(duì)焦一起確保了整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)的清晰對(duì)焦和清晰成像。

適應(yīng)任何樣品尺寸或分辨率

   從微結(jié)構(gòu)的亞微米空間分辨率到大面積樣品，Nanobase 系統(tǒng)無(wú)縫適應(yīng)各種研究場(chǎng)景。無(wú)論您是執(zhí)行快速評(píng)估還是進(jìn)行深入的表面分析，您都可以微調(diào)掃描策略以滿足您的分析目標(biāo)。

純拉曼信號(hào)的傳輸 VPH 光柵

技術(shù)概述

    Nanobase 拉曼光譜儀的核心是透射體相位全息（VPH）光柵，這是一種關(guān)鍵的光學(xué)元件，能夠以蕞小的噪聲實(shí)現(xiàn)靈敏度。與傳統(tǒng)的反射光柵不同，透射 VPH 光柵通

過(guò)全息記錄的體相位結(jié)構(gòu)來(lái)分散光。這種獨(dú)特的設(shè)計(jì)提供了幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：

- 高衍射效率：極大限度地提高信號(hào)吞吐量，確保即使是蕞微弱的拉曼信號(hào)也能得到保留。

- 低雜散光：減少不需要的背景光，提高光譜對(duì)比度和信噪比（SNR）。

- 蕞小重影：提供更干凈的光譜，沒(méi)有反射光柵設(shè)計(jì)中經(jīng)常出現(xiàn)的偽影。

- 緊湊的光學(xué)路徑：允許更穩(wěn)定的對(duì)齊和減少光學(xué)像差

可更換光柵的光譜儀

我們的光譜儀還可以輕松更換具有不同凹槽密度（lpmm）的光柵。這種靈活性使用戶能夠針對(duì)特定應(yīng)用優(yōu)化光譜分辨率和波長(zhǎng)范圍 —— 無(wú)論是優(yōu)先考慮細(xì)節(jié)還是更廣泛的覆蓋范圍。

光譜儀（XPE35 VS XPE50C）的性能比較

應(yīng)用領(lǐng)域

石墨烯，二維材料，生物樣本，半導(dǎo)體工業(yè)，碳納米管，碳材料，太陽(yáng)能電池，儲(chǔ)能材料，納米纖維分布，探測(cè)器光電性能檢測(cè)，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測(cè)，生物細(xì)胞成像，微塑料檢測(cè)，金剛石微粉檢測(cè)

應(yīng)用案例

泰諾藥片拉曼譜圖

二硫化鉬光學(xué)圖和拉曼成像圖

二硫化鎢光學(xué)圖和拉曼譜圖和拉曼成像圖

顯微鏡下的光學(xué)圖和拉曼成像（Raman spectrum Measurement & Raman Imaging）

拉曼成像光譜和光致發(fā)光PL（Raman Imaging &Photoluminescence Imaging ）

穩(wěn)態(tài)熒光成像和瞬態(tài)熒光時(shí)壽命（fluorescence Lifetime Measurement &Imaging ）

光電流成像（Photocurrent Measurement and Imaging ）

全自動(dòng)高精度共聚焦拉曼系統(tǒng) AutoRam C

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關(guān)于昊量光電：

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